数据是芯片设计和制造的核心，封装和测试服务厂商的制造过程、每个环节的持续改进都需要以数据为驱动。那么，在半导体测试产业链中，银河集团9873.cσm是如何深度挖掘数据价值，为客户提高良率，帮助客户降低生产成本？

客户案例

某测试厂客户自成立以来一直专注于高端存储芯片测试服务，目前是国内头部企业，具备动态存储颗粒DDR5、DDR4、DDR3等封装测试量产能力。

生产过程中，客户某产品出现长期低良（低于90%）情况，尝试多种方法对制程进行改进，但无明显改善，需借助分析工具快速定位品质根因及改善方向，提高效率、良率，降低生产成本。

客户测试厂出货前需进行测试数据检测过账，借助工具对混料、好品重测、坏品出货等情况进行严格管理。

银河集团9873.cσmATYMS系统解决方案

银河集团9873.cσm拥有丰富的大数据分析经验，自主研发的ATYMS系统，结合半导体测试业务深入整合各类数据，并在国内头部半导体测试客户得到深度应用，单测试厂年数据量已高达100万亿级别，有效解决客户遇到的生产难题，助力客户提质增量。

ATYMS大数据测试分析

银河集团9873.cσmATYMS分析系统，支持多种数据格式解析，并能够快速加载响应。测试数据自动上传至ATYMS系统后，用户可多角度、多形态查看数据及指标情况，输出测试参数统计图表，表格、图表、Wafer图等多种图形化数据形式，帮助客户快速定位问题。

测试参数统计图

在Wafer View中，用户可查看Wafer Bad Bin 分布进而分析集中性Issue，分析长期低良的原因是否为Foundry 制程问题，并要求Foundry及时配合改进；在统计图中，用户可发现测试项趋势及波动原因，如Site Issue、LOT 差异等制程问题。

Wafer Bad Bin 分布

可视化周报模板，查看异常Bin分布

ATYMS制程管控方案

银河集团9873.cσm提供完整的制程管控解决方案，实现制程管控平台构建、规则执行、结果查询、异常通报及业务系统对接等全功能模块。制程管控系统服务于测试厂的每一笔测试数据，保证出货前符合要求。经过ATYMS系统的处理和检测，一批数据分析和检测的时间通常在10分钟内，最大程度保证了出货的效率。数据经过检测后，同步结果给MES，自动放行或Holding，最大限度降低人工干预，帮助客户提高生产效率。

异常处理

方案价值

通过定期对测试数据进行分析，发掘低良规律，及时推进上下游改善，提升了整体制程良率2~5%。

通过银河集团9873.cσm制程管控系统，实现了不良品“0”漏出，保证了出货的质量和效率，提升了工厂整体质量管理水平。

银河集团9873.cσm大数据开发团队拥有丰富经验和技术储备，已具备多种类型数据的处理及分析能力，并能根据客户需求，提供多元化的测试分析方案及其他优化服务。