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ATYMS

芯片测试数据分析系统(ATYMS)简介:

在半导体测试领域,每时每刻都在产生大量数据,然而工程师经常面临无法有效使用数据来发挥其价值的问题,根源在于数据分布零散且质量层次不齐、数据指标计算不统一且计算花费时间太长、传统存储无法支持多批次的数据分析等。芯片测试数据分析系统,采用开源大数据技术引擎,可以对芯片测试的WAT、CP、FT、SLT全流程测试数据的进行一站式数据治理,构建符合业务主题的数据仓库,覆盖测试数据分析的主流场景。系统提供了自助式的数据分析工具,包括指标与维度的自由组合、丰富的图表呈现(Table、Chart、Statistical、Wafer View等)、灵活的仪表盘与报表等等。



功能特点:

➢  支持万亿级数据量(PB级),可对历史长时间范围内的数据进行趋势分析,常规查询可在5秒内返回。

➢  基于业务Know-How构建分析主题,提供100+维度、50+指标的自主组合分析,业务人员无需关注数据处理和存储的细节,只需关注数据分析逻辑。

➢  提供科学灵活的仪表盘、图表工具、报表,支持不同形式的分析,简单直观。


核心价值:

➢  大大降低制作周期性报表的时间成本,提升整体业务效率。

➢  通过建立指标趋势分析,监控制程是否异常,提升发现、定位问题的效率。

➢  针对外部反馈的问题,进行追溯分析,找到问题根源,为采取相应措施提供有力支撑,变被动为主动。

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