芯片测试数据分析系统（ATYMS）简介：

在半导体测试领域，每时每刻都在产生大量数据，然而工程师经常面临无法有效使用数据来发挥其价值的问题，根源在于数据分布零散且质量层次不齐、数据指标计算不统一且计算花费时间太长、传统存储无法支持多批次的数据分析等。芯片测试数据分析系统，采用开源大数据技术引擎，可以对芯片测试的WAT、CP、FT、SLT全流程测试数据的进行一站式数据治理，构建符合业务主题的数据仓库，覆盖测试数据分析的主流场景。系统提供了自助式的数据分析工具，包括指标与维度的自由组合、丰富的图表呈现（Table、Chart、Statistical、Wafer View等）、灵活的仪表盘与报表等等。

功能特点：

➢  支持万亿级数据量（PB级），可对历史长时间范围内的数据进行趋势分析，常规查询可在5秒内返回。

➢  基于业务Know-How构建分析主题，提供100+维度、50+指标的自主组合分析，业务人员无需关注数据处理和存储的细节，只需关注数据分析逻辑。

➢  提供科学灵活的仪表盘、图表工具、报表，支持不同形式的分析，简单直观。

核心价值：

➢  大大降低制作周期性报表的时间成本，提升整体业务效率。

➢  通过建立指标趋势分析，监控制程是否异常，提升发现、定位问题的效率。

➢  针对外部反馈的问题，进行追溯分析，找到问题根源，为采取相应措施提供有力支撑，变被动为主动。