芯片测试结批管系统(RCS）简介：

在半导体测试领域，生产环境存在各种各样的不确定性，可能由于人、机、料、法、环等因素造成测试机制程能力的偏移。芯片测试结批管控系统，采用开源大数据技术引擎，可以对芯片测试的CP、FT环节测试数据的进行一站式数据治理，针对设定的卡控规则进行计算，发现制程问题及时以邮件、企业微信等方式发送告警到对应责任人，降低不合格品流出的风险。用户可通过系统定义不同的卡控规则，实现对于不同客户、产品、测试程序的Lot或Run进行校验与卡控，通过多维度、多层级的组合对Yield、Bin、测试项等进行管控。

功能特点：

➢支持并行1000+ Lot/Run数据同时进行校验与卡控。

➢结合业务Know-How设计了常见的卡控规则，支持通过配置的方式进行设定，满足不同的管控需求。

➢支持邮件、微信等主流告警，支持与MES联动过站。

核心价值：

➢为生产上一道保险，避免不良品漏出。

➢提升发现问题的效率，及时解决问题，降低良率或质量持续恶化的风险。