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RCS

芯片测试结批管系统(RCS)简介:

在半导体测试领域,生产环境存在各种各样的不确定性,可能由于人、机、料、法、环等因素造成测试机制程能力的偏移。芯片测试结批管控系统,采用开源大数据技术引擎,可以对芯片测试的CP、FT环节测试数据的进行一站式数据治理,针对设定的卡控规则进行计算,发现制程问题及时以邮件、企业微信等方式发送告警到对应责任人,降低不合格品流出的风险。用户可通过系统定义不同的卡控规则,实现对于不同客户、产品、测试程序的Lot或Run进行校验与卡控,通过多维度、多层级的组合对Yield、Bin、测试项等进行管控。



功能特点:

➢支持并行1000+ Lot/Run数据同时进行校验与卡控。

➢结合业务Know-How设计了常见的卡控规则,支持通过配置的方式进行设定,满足不同的管控需求。

➢支持邮件、微信等主流告警,支持与MES联动过站。


核心价值:

➢为生产上一道保险,避免不良品漏出。

➢提升发现问题的效率,及时解决问题,降低良率或质量持续恶化的风险。

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